環旭電子整合真空印刷塑封與銅柱移轉技術 推動系統級先進封裝應用

上海2025年12月10日 /美通社/ -- 環旭電子微小化創新研發中心（MCC）宣佈，歷經三年研發與驗證，成功整合真空印刷塑封（Vacuum Printing Encapsulation, VPE）技術與高徑深比（>1:3）銅柱巨量移轉技術，並率先導入膠囊內視鏡微縮模塊與高散熱行動裝置電源管理模塊，展現跨領域系統級微型化封裝的實質成果。

同時， MCC 亦完成多折高線弧打線（ Multiple Bend, High Wire Loop Profile ）與基板級選擇性塑封（ Board-level Selective Encapsulation ）的整合技術，並成功應用於基站射頻功率放大器模塊的開發。上述技術整合顯示環旭電子在系統級先進封裝領域的深厚積累。

AI 應用帶動消費電子產品的智能化升級，電子產品所需模塊的設計複雜度持續提高，模塊開發週期對新產品研發的影響更為突出。傳統模封技術（如轉注成型、壓注成型）雖具備量產成熟穩定的優勢，但受限於昂貴的 BT 載板與客制模具，產品開發週期長達 12 周以上，可能造成產品上市時程的延遲。

真空印刷塑封技術提供突破性解決方案。該技術採用液態塑脂印刷，鋼板開制僅需 1 周，不需任何客制模具，使產品從設計到量產的時程可縮短達 90% ；並能以更有成本優勢、交期更短的 FR4 PCB 取代 BT 載板，協助微型化產品降低約 30% 的開發成本。 FR4 PCB 的室溫封填與低模流壓特性，尤其適用於模塊設計採用對高溫或高模流壓敏感的組件，例如微機電、高徑深比銅柱與高線弧打線等，提高新創與少量多樣產品的開發彈性，加速高可靠度微型化技術的市場導入。

環旭電子微小化創新研發中心 AVP 沈裡正博士表示：「真空印刷塑封技術同樣適用於高算力與高功率模塊，可支持 SMD 、裸芯片與封裝 IC 的異質整合，滿足多元應用需求。目前已有三款 Wi-Fi 模塊（單面、雙面、複合式電磁屏蔽）通過 X-ray 、 SAT 、 FCT 等多階段驗證，並經 MSL3 、 TCT 等可靠度測試，性能表現與傳統模封技術相當，確保質量與功能完整。」

微小化創新研發中心具備完整技術平台、專業設計團隊與量產等級設備，提供從概念設計、封裝開發到量產導入的一站式整合服務；中心亦配置專屬 SiP Lab 與 NPI 產線，確保複雜系統級封裝（ SiP ）技術的可量產性與最終性能。

展望未來，環旭電子微小化創新研發中心將持續擴充測試載具驗證與設備能量、深化可靠度驗證，以技術創新與客戶共創為核心，攜手全球夥伴應對 AI 世 代微小化模塊產品製造的新挑戰。

關於USI環旭電子 (上海證券交易所股票代碼: 601231)

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